A Method for determination of "Frequency dependence effects" in the infrared plasma spectra of semiconductors = Μια μέθοδος προσδιορισμού των φαινομένων εξάρτησης από τη συχνότητα στα υπέρυθρα φάσματα πλάσματος των ημιαγωγών

Δημήτριος Ι. Σιάπκας

Λέξεις κλειδιά


Solid state electronics; Semiconductors Plasma effects; Infrared spectra; Optical measurements; Ηλεκτρονική στερεών; Πλάσμα ημιαγωγών, φαινόμενα των; Υπέρυθρα φάσματα; Οπτικές μετρήσεις

Πλήρες Κείμενο:

PDF

Εισερχόμενη Αναφορά

  • Δεν υπάρχουν προς το παρόν εισερχόμενες αναφορές.


©1999-2001 Βιβλιοθήκη "Θεόφραστος", Με την επιφύλαξη παντός νομίμου δικαιώματος.
Εφαρμογή / Διαχείριση Ιστοχώρου: Μηντζαρίδης Στέργιος
Η ανάπτυξη του site πραγματοποιήθηκε με την αποκλειστική χρήση Λογισμικού Ανοιχτού Κώδικα