Yanchen, I. Y.

• Τόμ. 20, Αρ. 2 (1980) - Άρθρα
  Electrical investigations on heavily doped semiconductors: theory versus experiment = Μελέτη ηλεκτρικών ιδιοτήτων ημιαγωγών ισχυρής προσμείξεως
  Λεπτομέρειες  PDF